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JEOL: Lançamento de um novo Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE, Field Emission) JSM-F100 da Schottky

? O próximo nível de inteligência analítica em FE-SEM para combinar alta resolução e operabilidade ?

A JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (www.jeol.com) (Presidente e diretor de operações Izumi Oi) anuncia o lançamento de um novo microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo da Schottky, o JSM-F100, em agosto de 2019.

Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20190804005007/pt/

JSM-F100 (Photo: Business Wire)

JSM-F100 (Photo: Business Wire)

https://www.jeol.co.jp/en/news/detail/20190804.3456.html

Histórico

Os microscópios eletrônicos de varredura (SEMs, Scanning electron microscopes) são usados ??em diversos campos; nanotecnologia, metais, semicondutores, cerâmica, medicina e biologia. Com a expansão de aplicativos, os usuários de SEMs precisam de uma rápida aquisição de dados de alta qualidade e uma confirmação simples de informações de composição com operação transparente.

O JSM-F100 incorpora nossa pistola de elétrons Schottky Plus FE na lente e o “Neo Engine” (sistema de controle óptico de elétrons), assim como um novo “SEM Center” e um filtro “LIVE-AI(Live Image Visual Enhancer- Artificial Intelligence) inovador”. Isso permite uma combinação ideal de imagem e operacionalidade de alta resolução espacial. Além disso, um espectrômetro de radiografia dispersivo de energia (EDS [energy dispersive X-ray spectrometer]) padrão da JEOL é totalmente integrado dentro do “SEM Center” para aquisição transparente a partir de imagens para resultados de análise elementar. O JSM-F100 alcança uma excelente eficiência de trabalho, 50% ou mais do que a da nossa série JSM-7000 anterior, alcançando um alto rendimento drasticamente aumentado.

Características

  1. Pistola de elétrons Schottky Plus FE na lente
    A integração aprimorada da pistola de elétrons e da lente condensadora de baixa aberração fornece um brilho mais alto. A ampla corrente de sonda em baixa tensão de aceleração suporta diversos recursos, desde imagens de alta resolução até mapeamento elementar de alta velocidade.
  2. Lente Híbrida (HL, Hybrid Lens)
    A Lente Híbrida (HL), combinando lente de campo magnético e lente eletrostática, suporta imagens de alta resolução espacial e análise de diversos espécimes.
  3. Neo Engine (New Electron Optical Engine)
    O Neo Engine, um sistema de controle óptico de elétrons de última geração, melhora significativamente a precisão das funções automáticas e da operabilidade.
  4. Nova função de “SEM Center”
    Uma nova operação GUI “SEM Center” integra totalmente imagens de SEM e análise EDS e fornece operabilidade da próxima geração e imagens de alta resolução obtidas com FE-SEM.
  5. A nova função “Zeromag”
    “Zeromag”, incorporada para uma transição transparente da imagem óptica para a imagem SEM, facilita a localização da área de amostra alvo.
  6. Novo filtro LIVE-AI*
    Utilizando a capacidade AI (inteligência artificial), o filtro LIVE-AI é incorporado para uma qualidade mais alta de imagens ao vivo. Diferentemente do processamento de integração de imagens, esse novo filtro exibe uma imagem ao vivo em movimento transparente, sem nenhuma imagem residual e é muito eficaz para buscar rapidamente áreas de observação, foco e ajuste do estigmador.
    *opcional

Especificações:

Resolução (1 kV)

1,3 nm

Resolução (20 kV)

0,9 nm

Tensão de aceleração

0,01 a 30 kV

Detectores padrão

Detector de elétrons superior (UED, Upper Electron Detector), detector de elétrons secundário (SED, Secondary Electron Detector)

Pistola de elétrons

Pistola de elétrons Schottky Plus FE na lente

Corrente da sonda

Alguns pA a 300 nA(30 kV)
Alguns pA a 100 nA(5 kV)

Lentes objetivas

Lente híbrida (HL, Hybrid Lens)

Estágio de amostra

Estágio do goniômetro eucêntrico integral

Movimento da amostra

X: 70 mm, Y: 50 mm, Z: 2 a 41 mm
Inclinação: –5 a 70°, Rotação: 360 °

Detector de EDS

Resolução de energia: 133 eV ou menos
Elementos detectáveis: B (boro) para U (urânio)
Área de detecção: 60 mm2

Meta anual de vendas unitária

60 unidades/ano

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão
Izumi Oi, presidente e diretor de operações
(Código de ações: 6951, primeira seção da Bolsa de Valores de Tóquio)
www.jeol.com

O texto no idioma original deste anúncio é a versão oficial autorizada. As traduções são fornecidas apenas como uma facilidade e devem se referir ao texto no idioma original, que é a única versão do texto que tem efeito legal.


Contato:

JEOL Ltd.

Divisão de vendas de instrumentos de medição e ciência

Kazunori Kitazumi

+81-3-6262-3567

https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html


Fonte: BUSINESS WIRE

 

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